直探头缺陷定量方法

直探头缺陷定量方法主要有三种，分别是：当量法、移动探头测长法、底波高度法。下面就这三种直探缺陷定量方法做下详细介绍，希望多大家了解直探头知识有所帮助。

直探头缺陷定量方法一、当量法
当缺陷尺寸小于声束截面时，采用当量法确定缺陷的大小，用当量法测定的缺陷尺寸称为缺陷的当量尺寸。

1）当量试块比较法
当量试块比较法是指将工件中的自然缺陷反射回波与试块上的人工缺陷反射回波进行比较来对缺陷定量的方法。当同声程处的自然缺陷反射回波与某人工缺陷（如平底孔）反射回波高度相等时，该人工缺陷的尺寸就是此自然缺陷的当量大小。利用试块比较方法对缺陷定量时，要尽量使用试块与被探测工件的材质及其他探测条件一致，同时应考虑由于表面粗糙度不同而引起的表面补偿。

当量试块比较法的优点是直观、易懂，当量概念明确，定量比较稳妥、可靠。但这种方法需要制作大量试块，成本高；现场检测要携带很多试块，很不方便。因此，当量试块比较法仅在x<3N的情况下或特别重要工件的精确定量时应用。

2）当量计算法
当x>=3N时，规则反射体的反射回波声压变化规律基本符合理论反射回波声压公式。当量计算法就是根据检测中测得的缺陷波高的分贝值，利用直探头常用几种规则反射体的相对声压公式进行计算来确定缺陷当量尺寸的定量方法。应用当量计算法对缺陷定量不需要任何试块，是目前广泛采用的一种当量法。

3）当量AVG曲线法
当量AVG曲线法是利用AVG曲线来确定工件中缺陷的当量尺寸。

直探头缺陷定量方法二、移动探头测长法
当工件中缺陷尺寸大于声束截面时，—般采用移动探头测长法来确定缺陷的长度。移动探头测长法是根据缺陷波高与探头移动距离来确定缺陷的尺寸。按这种方法测定的缺陷长度称为缺陷的指示长度。根据测定缺陷长度时的灵敏度基准不同，将测长法分为相对是敏度法和绝对灵敏度法。 

1）相对灵敏度测长法
相对灵敏度测长法是指以缺陷最高反射回波为相对基准，沿缺陷的长度方向移动探头，降低一定的分贝值(有3，6，10，12，20 dB等多种)来测定缺陷的长度。经常采用的是6 dB法，由于波高降低6 dB后正好为原来波高的一半，因此6 dB法又称为半波高度法。 
6 dB法的具体操作方法是：移动探头找到缺陷的最大反射回波后，调节【衰减器】旋钮，使缺陷波高降至基准波高(如80％)。然后用衰减器将仪器灵敏度增益6 dB，沿缺陷方向移动探头，当缺陷波高降至基准波高时，探头中心线之间的距离就是缺陷的指示长度。

2）绝对灵敏度测长法
绝对灵敏度测长法是指在某一规定的检测灵敏度下，探头沿缺陷长度方向平行移动，当缺陷波高降到该灵敏度的位置时，探头移动的距离就是缺陷的指示长度。绝对灵敏度测长法测得的缺陷指示长度与测长灵敏度有关，测长灵敏度越高，缺陷指示长度越大。

直探头缺陷定量方法三、底波高度法
底波高度法是指利用缺陷波与底波的相对波高来衡量缺陷相对大小的方法。根据缺陷的情况不同，采用不同的评价方法。

 1）F／Bf法
F／Bf法是指在一定的灵敏度条件下，以缺陷波高F与缺陷处底波高Bf，之比来衡量缺陷的相对大小的方法。

2）F／BG法
是指在一定的灵敏度条件下，以缺陷波高F与无缺陷处底波高BG之比来衡量缺陷的相对大小的方法。采用上述两种方法来评价缺陷时，底波Bf和BG是不饱和的，当工件中存在小于声束宽度的单个缺陷时，由于缺陷F的反射，使工件底波下降。缺陷越大，缺陷波越高，底波就越低，缺陷波高与底波高之比就越大。同样大小的缺陷，距离不同，F/B不同，距离小时F/B大，距离大时F/B占小。因此F/B相同的缺陷，当量尺寸并不一定相同。

3）BG／Bf法
当工件中存在倾斜的面状小缺陷或密集小缺陷时，缺陷反射同波F可能不高，但由于缺陷的遮挡，缺陷处底波Bf却下降较多。为了评定这种类型的缺陷，需要采用另外一种方式来衡量缺陷的相对大小，即在一定的灵敏度条件下，以无缺陷处底波BG与缺陷处底波Bf之比Bf／BG来评定缺陷的相对大小。

直探头缺陷定量方法四、多次底波反射法
当透人工件的超声波能量较大，而工件厚度较小时，超声波可在探测面与底面之间往复传播多次，示波屏上出现多次底波B1、B2、B3等．如果工件存在缺陷，则由于缺陷的反射及散射而增加了声能的损耗，底面反射回波次数减少，同时也打乱了各次底面反射回波高度依次衰减的规律。

总之，底波高度法不用试块，是一种操作简便的方法，但是采用这种方法的条件是底面必须平行于检测面，且不能给出缺陷的当量尺寸，是一种缺陷相对大小的评定方法。

阅读本文的用户还对以下文章感兴趣：
超声波探伤仪探头种类
怎样使用超声波探伤仪
超声波探伤仪常见问题解析