表面粗糙度理论及标准的不足之处

表面粗糙度、形貌极大地影响着零件的使用性能，合理地表征和评定表面粗糙度、形貌是一项具有重要意义的课题，表面粗糙度理论及标准在不足百年的时间内得到了巨大的发展。随着当今微机处理技术、集成电路技术等的发展，出现了时序分析法、最小二乘多项式拟合法、滤波法、分形几何法、Motif法、功能参数集法等各种评定方法，取得了诸多进展，但是它们只能得到真实表面的有限信息，仍然存在一些问题有待完善：

表面粗糙度理论及标准的不足之处一、表面轮廓微观统计特征的全面准确描述问题；

表面粗糙度理论及标准的不足之处二、表面轮廓为随机过程，评定参数的值并不确定，由此产生了测量不确定性问题；

表面粗糙度理论及标准的不足之处三、评定参数的相互关系以及参数数目越来越多的参数爆炸问题；

表面粗糙度理论及标准的不足之处四、表面轮廓的测量结果受测量基准和仪器分辨率影响的问题；

表面粗糙度理论及标准的不足之处五、表面粗糙度参数与使用性能不能完全对应的问题。

希望今后能有更多科研人员投入到解决表面粗糙度理论及标准的不足之处，让用户们更好的使用表面粗糙度理论及标准。

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