涂层测厚仪的原理和测量方法

涡流测厚原理：当测头与被测试样接触时测头装置所产生的高频电磁场，使置于测头下面的金属导体产生涡流。其振幅和相位是导体与测头之间非导电覆盖层厚度的函数，即该涡流产生的交变电磁场会改变测头参数，而测头参数变量的大小则取决于涂镀层的厚度。通过测量测头参数变量的大小并将这一电信号转换处理，即可得到被测涂镀层的厚度值。

磁性测厚原理:当测头与覆层接触时,霍尔发现这个电位差UH与电流强度IH成正比。测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在使磁路磁阻变化,与磁感应强度B成正比；当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,与薄片的厚度d成反比。通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。

测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型方法：

1、磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为：钢\铁\银\镍.此种方法测量精度高。

2、电解测厚法：此方法不属于无损检测需要破坏涂镀层，一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。

3、超声波测厚发：目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合但一般价格昂贵，测量精度也不高。

4、涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。

5、放射测厚仪：此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。

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