测厚仪覆层厚度丈量方法

对材料表面保护、装饰形成的笼盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学天生膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层，覆层厚度丈量已成为加工产业、表面工程质量检测的重要一环；是产品达到优等质量尺度的必备手段。为使产品达到国际化标准，我国在出口商品和涉外项目中对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的丈量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差丈量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性丈量法及涡流丈量法等。这些方法中前五种是有损检测，丈量手段繁琐、速度慢，多适用于抽样检修。X射线和β射线法是无接触无损丈量，但装置复杂昂贵，丈量范围较小。因有放射源，使用者必需遵守射线防护规范。X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适用于镀层和基材原子序号大于3的镀层丈量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。跟着技术的日益提高，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。丈量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%有了大幅度的进步。它适用范围广、量程宽、操纵简便且价廉，是产业和科研应用中最广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作快速而有效的进行。

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